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祁树锋; 刘尚合; 刘红兵; 杨洁;
军械工程学院,静电与电磁防护研究所,石家庄,050003;
中国电子科技集团,第13研究所,石家庄,050051;
静电放电; 微电子器件; 潜在失效; 2SC3356晶体管;
机译:失效原因及对策:静电火花放电的降解产物
机译:承受静电放电应力的器件的紧凑型热失效模型
机译:硅纳米线场效应晶体管在静电放电应力作用下的失效分析
机译:静电放电引起的组件失效研究
机译:关于静电放电引起的软故障的集成电路特征。
机译:通过时间特异性饲养量增加减少早产儿前放电生长失效的举措
机译:半导体材料中静电放电失效模型的研究进展
机译:片上保护电路对静电放电引起的潜在故障的敏感性
机译:相对于测量方法,静电放电失效ON测试方法以及静电放电失效测试设备的零静电放电
机译:测试晶片和研究静电放电引起的晶片缺陷的方法
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