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集成电路高功率微波易损性预测评估模型

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摘要

介绍了集成电路高功率微波易损性的基本概念,给出了利用人工神经网络建立集成电路高功率微波易损性预测评估模型的基本步骤,通过一个实例,对预测评估模型的有效性进行了检验.实践表明:人工神经网络作为一个有效工具,可以较好地应用到集成电路高功率微波易损性预测评估工作中.

著录项

来源
《强激光与粒子束》|2009年第4期|565-568|共4页
作者
方进勇; 张治强; 黄文华; 江伟华;
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作者单位

清华大学,电机系,北京,100084;

西北核技术研究所,西安,710024;

西北核技术研究所,西安,710024;

西北核技术研究所,西安,710024;

清华大学,电机系,北京,100084;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类 TN051;
关键词
高功率微波; 易损性评估模型; 集成电路; 人工神经网络;

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