利用唯象模型解释和理解弱吸收下降曲线

摘要

观察到了光学基片和薄膜元器在准连续激光辐照下发生了预处理效应.在532 nm和355 nm激光辐照下,许多样品的弱吸收值呈现出一个相似的下降曲线(ADC);但在1064 nm激光辐照下没有此现象.为了解释和进一步理解该现象,合理假设该现象与辐射总能量密度有关,以此建立了一个唯象模型,并进行了一系列推算.推算结论指出:ADC的初始部分形状更多与具体发生的激光预处理机制有关,而尾部形状更多是由于高斯光分布所致;归一化后的ADC以及归一化后的上渐近线,将成为多个ADC曲线之间进行比较的天然度量衡.这些推论得到了实验数据的支持.