集成电路低功耗测试技术研究

摘要

针对测试过程中集成电路芯片测试功耗过高的问题,简要分析了集成电路芯片测试技术的现状,对国内外相应的测试方案进行了探讨,并对各种方案的优缺点进行了总结。