微波单片集成电路测试技术研究

摘要

微波单片集成电路主要应用于无线通讯、雷达、电子对抗等领域,近年随着装备发展对微波器件需求越来越大,其可靠性保证要求也越来越高,而目前单片有源微波器件在国内还处于起步阶段,相关的检测试验技术方法欠缺.针对这一问题,本文开展有源微波器件测试技术研究,以微波放大器、射频开关、微波振荡器等几类典型器件为例介绍回波损耗、1dB压缩点、单边带相位噪声等主要微波特性参数的测试方法.