纳米技术测试方法学

摘要

cqvip:本文中,我们在检测产品制造缺陷的功能测试背景下,引入了一种可确保用于纳米技术领域中设备的产品质量方法学。这种可以检测延迟缺陷的测试方法学,成为测试方法学的下一代标准,它可以解决在临界值下,动态缺陷引起的延迟缺陷测试问题。该方法学除了可确保产品质量之外,同样可降低测试成本并缩短量产时间。