计算机化断层X射线照相系统及其在工业上的应用

摘要

[《美国核学会汇刊》1988年第56卷增补第3期第9页报道]利用机算机化断层X射线照相法(CT),可以看到材料,部件和组件的横断面,以便进行工业无损检验。人们已应用这种技术以相当高的分辨率定量地测定X射线衰减的三维分布。劳伦斯利弗莫尔国家研究所无损检验科的工业X射线CT的研究重点,集中在两种技术方法上。第一种方法利用充分准直(约0.5mm)的光子束和探测器。这就是众所周知的第一代转拍一旋转式CT系统。