定向结晶叶片内部晶体取向无损测定研究

摘要

采用短波长特征X射线衍射方法,无损测定镍基高温合金定向结晶叶片内部晶体取向及其分布,阐述其测定原理。通过单点扫描的方式,实现对定向结晶叶片内部一条直线上晶体取向分布的无损检测;通过分析衍射峰宽,实现扫描方向上晶粒尺寸的测量;结合内部晶体取向及扫描测试结果,确定样品内部不同取向的晶粒至少存在5个;通过晶体取向角的梯度变化特征探讨晶界类型的区分。为短波长特征X射线衍射技术用于无损检测定向结晶以及单晶叶片内部晶体缺陷奠定基础。