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亚微米深度位相型衍射光栅的研制及其失效分析

         

摘要

提出了一种亚微米深度的纯位相型玻璃衍射光栅制作工艺,采用光刻制栅方法对要制作的光栅结构进行了分析;用AUTOCAD绘图软件绘制光栅的排列布局以及MATLAB软件对设计出的图案进行衍射图样模拟,在基于数字微镜的光刻机上进行曝光,由涂覆光刻胶的铬玻璃上得到缩微图案;观察了单色激光的夫琅禾费光栅衍射图样,以确定最终的设计图案;用电子束刻蚀方法得到的铬掩膜板进行常规光刻工艺处理,得到纯位相型的衍射光栅,最后通过对衍射光栅的衍射图案的失效性分析确定最佳的光刻工艺.结果表明:利用光刻制栅方法不仅可以在玻璃上制得纯位相型光栅,同样也可以在硅片、金属等其他基底上制得光栅或其他光学重复单元,方法可行,且材料成本不高.

著录项

  • 来源
    《失效分析与预防》 |2012年第2期|99-103|共5页
  • 作者单位

    无损检测技术教育部重点实验室(南昌航空大学),南昌330063;

    吉林省特种设备监督检验中心,长春130041;

    无损检测技术教育部重点实验室(南昌航空大学),南昌330063;

    无损检测技术教育部重点实验室(南昌航空大学),南昌330063;

    无损检测技术教育部重点实验室(南昌航空大学),南昌330063;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 TH744.1;
  • 关键词

    亚微米; 位相型; 衍射光栅; 失效分析;

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