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T2000 GSMF-下一代低成本开放架构测试解决方案

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摘要

近年来IC工业的快速发展对于自动测试设备(ATE)在架构、成本等方面提出了挑战.面对需求,ADVANTEST提出了开放架构测试平台的标准-OPENSTAR以及基于此标准的T2000SoC测试系统,其中T2000 GSMF是最新发布的低成本的ATE解决方案.

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来源
《电子工业专用设备》 |2008年第5期|54-56|共3页
作者
周震一;
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作者单位

爱德万测试(苏州)有限公司上海分公司,上海,201102;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类测试和检验;
关键词
自动测试设备; 开放架构; T2000 GSMF;

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