自动测试设备

摘要： RapidIO交换芯片因其出色的延迟及高可靠性而被广泛地应用于各种通信系统中,可以高速地传输系统内各种设备间的数据。基于ATE测试系统对RapidIO交换芯片的测试内容及方法进行了探讨,尤其是对高速串行接口相关参数的测试方法进行了研究,并采用高速RapidIO交换芯片开展了测试验证。

摘要： 为满足集成电路自动测试设备(ATE)通道间信号同步的需求,基于FPGA提出了一种ATE激励信号传输延时误差的测量方法。该方法硬件结构简单,充分发挥了FPGA与ATE的特性。实验结果表明,该方法的测量结果与示波器测量结果误差在4%以内,能满足激励信号频率小于200 MHz的测量要求。

摘要： 测试性要求分析是首要的测试性工作项目,但在实践中,分析工作高度地依赖于分析者的行为,由于认识的局限性,以及经验和支撑信息的匮乏,往往会导致分析结果不全面、不准确和可行性差,严重地影响测试性作用的发挥。应从产品层次、维修级别、诊断要素的空间维度,从研发、生产、运行与维护的时间维度,多视角地分析测试性定性要求和定量要求。给出了分析方法和流程,同时指出测试性应作为装备综合诊断能力的重要组成部分来统筹安排,以实现装备效能整体最优化。

摘要： 为提高集成电路测试效率,提出一种结合三态信号的改进游程编码压缩方法.先对原始测试集进行部分输入精简处理并填充测试集的无关位,再对经过预处理的测试集根据游程长度进行变长分段处理找出最优段长.按照游程长度的出现频率对最优段长下的参考位设置编码表进行编码压缩,使用三态信号编码标志位并将编码压缩后的测试集存入自动测试设备(ATE),最终通过设计解压电路对ATE中存储的压缩数据进行无损解压.实验结果表明,在硬件开销未明显增加的情况下,该方法的测试数据平均压缩率达到74.39％,优于同类压缩方法.

摘要： 在各种定制化测试设备中,由于很多仪器驱动不符合现有的标准,从而降低了测试软件的开发效率和质量.为此,提出了一种面向功能的测试设备驱动器的设计与实现方法.通过对特定类别测试设备所需实现功能的分析,获得了脱离硬件环境的功能项目集合,并建立了规范化的设备驱动接口.在驱动组件的内部,封装了对硬件仪器的控制,并描述了实际测试设备的功能实现.测试设备驱动器为上层软件提供了统一的开发和运行基础,便于测试程序针对这些虚拟化的功能接口进行开发,避免了硬件的差异性对业务逻辑的影响.应用实例表明,该方法提高了测试程序的移植性和开发质量,尤其适用于各种系列化的、含有非标准驱动程序的测试软件的开发.

摘要： 随着集成电路复杂度的越来越高,集成电路测试难度也相应增加,部分芯片的制造成本大部分用于芯片测试,芯片成本是芯片生产制造中重要的考量标准。如何实现高性能、低成本的测试需求是一个难题,而自动测试设备结合 PXI 系统大大降低了芯片测试成本的高性能,让这一难题得以解决。与此同时,还可以实现微波半导体器件多参数测试过程中的精确测量控制、实时状态感知、自动分析决策以及协同控制执行等功能。文章通过对 PXI 协议进行阐述,列举大量 ATE 测试平台关系进行分析,促进国内半导体产业的发展,从而验证半导体产业对整个微波射频芯片市场的自动化测试领域有巨大的示范和推动作用。

摘要： 随着集成电路的使用环境变得更加严酷,为了保证芯片在较大的温度范围内有较高的稳定性,在芯片的可靠性评价考核过程中必须对芯片进行常温、低温和高温测试(称为"三温测试").与此同时,芯片的量产测试需要从大量的芯片中筛选出合格和不合格的芯片.为了提高测试效率和保障产品质量,提出了基于测试分选机的集成电路三温量产测试系统,并对该测试系统的构成及搭建进行了分析.针对三温量产测试给出了包括测试板设计、测试配套件开发、测试软件开发、温控时间设定和多芯片并行量产测试等关键步骤.项目研究可以为行业提供集成电路三温量产测试系统搭建及选型参考,并可以指导三温量产测试项目的实施.

摘要： 集成电路是新一代信息技术战略产业的基础,关乎国家的信息安全和经济安全.集成电路测试是集成电路产业链的关键技术环节,贯穿于设计、制造、封装和应用等全产业链.集成电路设计、工艺和封装等技术的发展,对集成电路测试提出了挑战.在总结集成电路测试分类的基础上,研究了集成电路测试的全流程,基于集成电路测试设备的发展现状,详细地分析了超大规模集成电路的ATE自动化测试、测试向量转化优化和高速信号完整性测试等关键技术,最后展望了超大规模集成电路测试技术发展.

摘要： 串行传输技术特别是串行解串器(SerDes)能提供比并行传输技术更高的带宽,被广泛应用于嵌入式高速传输领域.SerDes物理层的测试需要设备的带宽大于信号速率,测试指标高且测试端口接入会对信号产生影响.大多数厂商采用仪器仪表与评估板来评估待测器件(DUT)的方式效率低下,只适用于产品评估阶段.基于自动测试设备(ATE)与可测性设计(DFT)相结合的方式,采用高速串行接口源同步测试技术、测试通路校准与补偿等技术,对SerDes产品的功能、发送和接收端参数进行全面的测试,实现高速接口的快速准确测试,并可适用于其他同类SerDes芯片测试.

摘要： 在介绍航空综合自动测试技术的基础上,较为深入地分析了中国航空综合自动测试设备发展存在的主要问题及原因,提出了综合自动测试设备研制基本要求,并结合国内外综合自动测试设备发展的研究现状,对未来航空综合自动测试设备的发展特点和关键技术做出展望,并提出了贯彻通用化、标准化、系列化、小型化要求和确保测试系统兼容性和开放性是发展中国航空综合自动测试设备的核心技术手段.

摘要： 机载超短波定向是一种重要的机载导航设备,而目前部队无该设备的测试仪器.利用虚拟仪器技术开发环境LabWindows CVI和PC/104总线技术,设计了小型化、自动化的高精度的超短波定向机测试设备;系统软硬件采用结构化模块设计思想,方便系统调试和功能扩展.详细阐述了机载超短波定向机自动测试设备的系统组成、工作原理、软硬件设计及功能模块的具体实现,试用结果表明,该测试设备可满足某型战斗机超短波定向机性能测试.

摘要： 针对目前ATE的校准现状,通过分析ATE的结构及测试参数,重点解析了ATE相关计量特性的校准方法及判断依据,并提出了ATE的校准原则.

摘要： 本文针对以往自动测试设备接口适配问题,采用模拟总线的设计思想,构建大规模的接口通用适配组合,采用阻抗匹配设计实现大于15MHz的信号带宽,采用路径自动规划算法均等化使用模拟总线.通过网络分析仪和示波器测试接口通用适配组合的带宽和隔离度,并在项目中选取多种典型电路单元进行适配试验,验证了通用接口适配功能的实用性.

摘要： 针对传统测试设备成本高、吞吐量低、不易实现远距离数据采集等缺点,提出一种基于PXI及LXI混合总线,采用LabVIEW虚拟仪器开发平台的专用自动化测试设备,并从软硬件两个方面说明了系统的工作原理及实现方法.与传统测试设备相比,本系统具有成本低、小型化、易维护、可远程控制数据采集等优点.

摘要： 文章结合道路照明的实际需要,介绍了亮度测量仪器、测量方法、计算公式和相关注意事项,并提出了一种全自动测试道路照明亮度的技术方案.

摘要： 文章结合道路照明的实际需要,介绍了亮度测量仪器、测量方法、计算公式和相关注意事项,并提出了一种全自动测试道路照明亮度的技术方案.

摘要： 文章结合道路照明的实际需要,介绍了亮度测量仪器、测量方法、计算公式和相关注意事项,并提出了一种全自动测试道路照明亮度的技术方案.

摘要： 文章结合道路照明的实际需要,介绍了亮度测量仪器、测量方法、计算公式和相关注意事项,并提出了一种全自动测试道路照明亮度的技术方案.

摘要： 采用一台水源热泵机组,使其进行制冷或制热循环,通过循环流动的载热介质对地热耦合井进行释热或释冷,测量在给定的温度条件下,地热耦合井换热系统达到热平衡时的进出水温差和流量,从而计算出地热耦合井换热系统的最大热交换能力或岩土导热系数,研制了地源热泵地耦管换热量测试设备.应用效果表明,测试设备能够准确测定取热值,可为地源热泵冷热源系统的科学、合理的设计提供可靠依据.

摘要： 本发明公开了一种自动测试设备和升级一自动测试设备的集成电路测试界面，所述集成电路测试界面用以测试一待测组件，所述集成电路测试界面包含至少一引脚，用来接收或传送至少一测试信号至该自动测试设备的一测试机；复数个数字化仪，耦接于该至少一引脚，以产生一数字信号；一处理器，耦接于该复数个数字化仪，用来进行该数字信号的处理；以及一连接件，用来连接该处理器与一计算机设备，以将该处理器的一输出信号传送至该计算机设备；其中，该集成电路测试界面设置于该自动测试设备的该测试机与一针测机之间。

摘要： 本发明提供了示例性自动测试设备(ATE)，所述ATE可包括：其上安装有DUT的装置接口板(DIB)；向所述DUT发送信号并且从所述DUT接收信号的系统；以及通过所述DIB向所述DUT提供电流的能量源单元(ESU)，其中所述ESU包括用于提供所述电流的电流路径，并且其中所述电流路径被构造成限制所述电流路径的组合电感。

摘要： 本发明公开一种自动测试设备的触发实现方法及自动测试设备。自动测试设备包括背板和多个测试板卡，该方法包括基于以下第一至第三触发方式中的一种或几种的组合进行自动测试设备的触发：第一触发方式：背板向各测试板卡发送下触发信号，各测试板卡向背板发送上触发信号；第二触发方式：背板同时向所有测试板卡发送同步触发信号；第三触发方式：以初始状态为高电平的状态总线连接背板和所有测试板卡，背板和所有测试板卡均能将状态总线拉低为低电平且所有测试板卡均以状态总线被拉低为低电平作为触发信号。该自动测试设备可灵活便捷地实现事件控制及同步，具有较强的灵活性和可拓展性。

摘要： 一种用于测试一个或多个DUT的自动测试设备，包括测试头和DUT接口。DUT接口包括多个弹簧加载引脚块，例如弹簧加载引脚的组或场。例如，DUT接口被配置为在测试头与DUT板或负载板之间建立电子信号路径，该DUT板或负载板承托DUT或提供与DUT的连接。自动测试设备被配置为允许至少两个弹簧加载引脚块之间的距离发生变化。

摘要： 本发明公开了一种自动测试设备和升级一自动测试设备的集成电路测试界面，所述集成电路测试界面用以测试一待测组件，所述集成电路测试界面包含至少一引脚，用来接收或传送至少一测试信号至该自动测试设备的一测试机；复数个数字化仪，耦接于该至少一引脚，以产生一数字信号；一处理器，耦接于该复数个数字化仪，用来进行该数字信号的处理；以及一连接件，用来连接该处理器与一计算机设备，以将该处理器的一输出信号传送至该计算机设备；其中，该集成电路测试界面设置于该自动测试设备的该测试机与一针测机之间。

摘要： 本发明提供了自动测试设备的数字引脚校准方法、系统及自动测试设备，通过将每个数字引脚短接至时间校准套件，并将每个数字引脚的数字驱动信号驱动至时间校准套件；基于预设时间输出延迟，测量每个数字引脚对应数字信号的时域反射信号；按照采样电压对时域反射信号进行电压采样，确定每个采样电压对应的采样时刻；判断当前数字引脚的相邻两个采样电压对应的采样时刻间的第一采样时长是否相同；在相同时，基于预设时间输出延迟确定当前数字引脚的校准时间输出延迟。通过比较采样时刻距离工作电压中间带采样时刻的时长来对当前数字引脚进行校准，并且每个数字引脚仅需两次迭代即可实现校准，过程简便快速，提高了自动测试设备数字引脚校准效率。

摘要： 本发明提供了自动测试设备的控制参数调整方法、系统及自动测试设备，该方法包括：基于负载板的第一电容信息及被测设备的第二电容信息建立自动测试设备的控制器模型；获取被测设备的电压设定值及最大峰值电压，根据自动测试设备的电压与积分增益参数对应关系，确定最大峰值电压所对应的积分增益参数调节范围；在积分增益参数调节范围内，对控制器模型的积分增益参数进行调节；比较控制器模型的稳定时间，对电压上升时间进行更新，确定稳定时间最小时对应的电压上升时间，进而确定积分控制器的增益系数。避免因过冲而损坏被测设备的问题，降低了为调谐自动测试设备控制器增益的风险和复杂性，耗时短，效率高，更适合实际生产环境。

摘要： 一种自动测试设备方法，适用于一自动测试设备系统。所述自动测试设备方法包括：经过一先进先出存储器接收一待测装置的寄存器数值、经过所述先进先出存储器接收一自动测试设备的输入数值、以及经过所述先进先出存储器接收所述自动测试设备的选择信号以写入所述寄存器数值或是所述输入数值至所述待测装置以进行测试。借此，使自动测试设备与待测装置仅通信一次，使读取‑修改‑写入的测试程序执行效率更为提高，进而减少了测试时间。

摘要： 本发明公开一种自动测试设备的触发实现方法及自动测试设备。自动测试设备包括背板和多个测试板卡，该方法包括基于以下第一至第三触发方式中的一种或几种的组合进行自动测试设备的触发：第一触发方式：背板向各测试板卡发送下触发信号，各测试板卡向背板发送上触发信号；第二触发方式：背板同时向所有测试板卡发送同步触发信号；第三触发方式：以初始状态为高电平的状态总线连接背板和所有测试板卡，背板和所有测试板卡均能将状态总线拉低为低电平且所有测试板卡均以状态总线被拉低为低电平作为触发信号。该自动测试设备可灵活便捷地实现事件控制及同步，具有较强的灵活性和可拓展性。

摘要： 本实用新型公开了一种自动测试设备和升级一自动测试设备的集成电路测试界面，所述集成电路测试界面用以测试一待测组件，所述集成电路测试界面包含至少一引脚，用来接收或传送至少一测试信号至该自动测试设备的一测试机；复数个数字化仪，耦接于该至少一引脚，以产生一数字信号；一处理器，耦接于该复数个数字化仪，用来进行该数字信号的处理；以及一连接件，用来连接该处理器与一计算机设备，以将该处理器的一输出信号传送至该计算机设备；其中，该集成电路测试界面设置于该自动测试设备的该测试机与一针测机之间。因此，本实用新型可用于自动测试设备中，提供一种低成本的集成电路测试界面，以提升该自动测试设备的测试效能，进而降低测试成本。