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下一代开放式架构测试解决方案

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摘要

近来随着IC市场的多样化发展趋势,对能够覆盖各种专业测试功能的IC测试系统要求也日益迫切,同样如何降低测试成本也是至关重要.为了适应相应的需求,解决面对的问题,爱德万测试公司(ADVANTEST)推出了下一代开放式架构测试解决方案--T2000 SoC测试系统.

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来源
《中国集成电路》 |2008年第3期|76-80|共5页
作者
魏炜; 浜岛明;
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作者单位

爱德万测试(苏州)有限公司;

爱德万测试(苏州)有限公司;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类微电子学、集成电路（IC）;
关键词
开放式架构; T2000; 模块;

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