探究电子元器件的失效模型与可靠性试验方法

摘要

cqvip:电子元器件质量决定其工作可靠性,根据电子元器件失效机理判断其失效模型,可以准确判断电子元器件缺陷和故障问题,推动产品质量的提升。基于此,本文首先介绍了电子元器件的种类,其次对失效模型进行了简单的介绍,最后根据电子元器件失效模型研究了可靠性试验方法,需要综合分析电子元器件工作场景和内容,设计科学的试验方案。