基于ATE的NAND FLASH测试方法研究

摘要

随着信息化时代的发展,全球对数据存储的需求越来越多,NAND FLASH作为一款大容量存储器也被广泛应用到各种储存设备中,其测试评价需求也日益递增.该文针对这类存储器介绍了一种基于ATE(Automatic Test Equipment)的NAND FLASH测试方法.首先以镁光的MT29FxxGxx芯片为例,介绍了NAND FLASH存储器的基本工作原理,并从功能测试、直流参数、交流参数三个方面对常用的测试方法进行了阐述.