首页> 中文期刊> 《集成电路应用》 >基于ATE的SoC协议测试方法研究

基于ATE的SoC协议测试方法研究

         

摘要

面对当今复杂SoC器件,开发ATE测试解决方案变成一项越来越困难的任务.测试要求已经从器件参数测试、逻辑功能测试转移到了包括调制、协议测试等在内的系统级测试,从而增加测试支出成本和程序开发时间.讨论通过基于ATE测试系统Smart RDI软件编程的测试方法生成测试矢量,通过构建详细的ATE与器件接口间的协议规则,实现SoC接口协议测试或者通过寄存器设置进行特定模式测试的目的,不需要为数字协议开发所有仿真向量,减少设计到测试创建,转换,传输和下载协议规则的中间阶段的大量时间,灵活地对协议编程实现待测器件设置和测量.

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号