薄膜电容器损耗的频率特性

摘要

高频损耗是薄膜电容器的一个蕈要的指标,它直接影响整机的可靠性.文章介绍了电容器损耗的概念、损耗的组成、外界因素对损耗的影响;运用试验数据说明薄膜电容器的高频损耗随测试频率的增加而增加,两者之间不是线性关系;通过对薄膜电容器生产过程的分析,指出了高频损耗产生的原因以及应采取的措施,并运用0.618法和正交试验法确定了重要工序的主要参数.