首页> 中文期刊> 《电子标准化与质量》 >检验半导体分立器件怎样运用结构相似性程序

检验半导体分立器件怎样运用结构相似性程序

         

摘要

研究了结构相似性的涵义与应用的前提条件;在半导体分立器件品种构成特点的基础上,提出应用结构相似性的原则和可构成的方案;为军用标准的贯彻实施,实现鉴定扩展和合格资格维持提供了说明。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号