基于区域增长的电路板元件检测算法

胡水华; 赵先军; 王保保

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分析了在微电子表面组装技术(SMT)中应用的自动光学检测(AOI)技术与系统的基本原理以及目前存在的问题,提出了一种基于区域增长法求图像边界的检测算法.这种算法首先用区域增长法求出元件的边界矩阵,然后根据此边界矩阵的霍夫变换得出的矢量图与系统内部的标准电路元件模型进行匹配.文章中给出了算法的实现代码以及运行实例.

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来源
《电子科技》 |2004年第4期|11-14|共4页
作者
胡水华; 赵先军; 王保保;
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作者单位

西安电子科技大学,陕西,西安,710071;

西安电子科技大学,陕西,西安,710071;

西安电子科技大学,陕西,西安,710071;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类测量和检验;
关键词
微电子; 表面组装技术; 自动光学检测; 区域增长法; 霍夫变换;

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