抗振晶体振荡器相位噪声测试方法的对比研究

摘要

目前电子系统都要求对晶体振荡器进行振动状态下相位噪声测试.但对于抗振晶体振荡器,按照常规相位噪声测试方法进行测试时其结果有可能不正常.文中分析了抗振晶体振荡器振动状态下的相位噪声及测试方法,通过对比测试发现,不同的测试系统其测试结果也不相同.通过系统设置和实验验证,解决了测试结果不正常的问题,使测试结果达成一致.