LPDDR4物理层测试解决方案

摘要

该方案是针对下一代移动内存技术——JEDECLPDDR4的完整物理层及一致性测试解决方案。LPDDR4技术基于目前的LPDDR3技术，其数据速率将增加到4．26Gb／s，由于仅有1．1V的低输入／输出电压、高数据速率以及使得测试非常不方便的紧凑机械设计，LPDDR4带来了新的测试和测量挑战。另外，参考电压、读突发（read burst）和写突发（write burst）方面的许多变化也使得进行JESD209－4规范所要求的测试变得更加复杂。泰克为设计工程师测试其LPDDR4设计提供了完善的工具集。通过自动化的设置及测试执行，泰克解决方案能够将其测试周期从之前的1个星期或更长时间缩短到14,时。