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杨智帆; 阳川; 李凌博; 胡波; 兰楠;
重庆赛宝工业技术研究院有限公司;
工业和信息化部电子第五研究所;
智能电子电器可靠性技术重庆市重点实验室;
电子元器件; 假冒翻新; 破坏性物理分析;
机译:p-GaN HEMT器件的高温电性能和基于物理的分析
Electrophysical Properties
机译:基于CZ-Si 电物理性质的锗对n-p-n-p器件结构辐射和热稳定性影响的统计分析
电物理性质的锗对n-p-n-p器件结构辐射和热稳定性影响的统计分析
机译:基于物理的AlGaN / GaN HEMT器件2DEG电荷密度分析模型
机译:基于物理分析测试技术的假冒伪劣成分识别方法
机译:破坏性诗学中基于场所的空间知识的建构:基于亨利·勒费弗尔的思想对查尔斯·奥尔森,安德里亚·赞佐托,爱德华·多恩和吉安妮·塞拉蒂的作品进行分析。
机译:基于指纹识别方法的户外定位的多器件多模型和多模态数据集
机译:基于多维半导体器件模型的技术参数灵敏度,基于物理原理的微波电路大信号灵敏度分析
机译:基于小波变换的贝叶斯图像分析与自动目标识别方法
机译:基于自动行为分析的物理空间员工识别方法及系统
机译:假冒产品和可能假冒产品的识别方法
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