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金属封装功率器件管壳镀金层腐蚀机理研究

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金属封装形式的氧化物半导体场效应晶体管(VDMOS),在经历筛选试验后,管壳表面的金属层出现了腐蚀形貌,通过显微镜观察、扫描电镜、EDS能谱分析和切片镜检等方法,对腐蚀样品进行了分析,确定了失效原因,并详细地阐述了腐蚀发生的机理.

著录项

来源
《电子产品可靠性与环境试验》 |2021年第4期|19-25|共7页
作者
李寿全;
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作者单位

北京新能源汽车技术创新中心有限公司北京 100029;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类半导体三极管（晶体管）;
关键词
功率器件; 管壳腐蚀; 失效分析; 氧化物半导体场效应晶体管;

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