退出
我的积分:
中文文献批量获取
外文文献批量获取
曾纪科;
本刊编辑部;
集成电路; 可靠性; 质量;
机译:大型集成电路和超大型集成电路的软件可靠性
机译:材料与设计对2.5 D集成电路的通玻璃通孔可靠性的影响:数值研究
机译:3D集成电路热电耦合场下TSV的可靠性模拟与寿命预测
机译:高可靠性/小体积集成电路的产品可靠性和资格:讨论组,2017年10月10日
机译:集成电路可靠性模型及其在提高可编程逻辑器件可靠性方面的适用性。
机译:微型计算机对医学自动化仪器的影响。硬件和集成电路的进展
机译:超薄柔性包装CMOS RF集成电路的射频可靠性研究
机译:IRIs(集成电路中的完整性和可靠性)测试文章生成(ITaG)。
机译:集成电路方法的可靠性tesmenetelm u00e4集成电路的可靠性tesmenetelm u00e4集成电路的可靠性tespuristin tapurseksi taamiseksi taamiseksi
机译:半导体集成电路装置的可靠性验证方法,半导体集成电路装置的可靠性验证装置和计算机程序
机译:使用针对可靠性优化的故障机制的集成电路芯片可靠性
抱歉,该期刊暂不可订阅,敬请期待!
目前支持订阅全部北京大学中文核心(2020)期刊目录。