元器件增长的信息跟踪及数据分析

摘要

在对产品进行“试验、分析与纠正”的过程中,每一项成功的纠正措施都会降低产品的废品率。产品废品率与其故障率之间有一定的内在联系。产品废品率反映了产品在某时刻的质量状况;产品故障率则反映了产品在某一时间区间内的质量状况。若记P为产品的废品率;记λ为产品的故障率,当产品母体服从指数分布时。