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中国电子学会电子元件分会可靠性与质量管理专委会军用电子元件“八五”可靠性研究学术会议

召开年：1998
召开地：成都
出版时间： 1997-12

主办单位：中国电子学会

会议文集：军用电子元件“八五”可靠性研究文集

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1.军用电子元器件标准与军用电子元器件可靠性
- 张景源;韩勤
- 《中国电子学会电子元件分会可靠性与质量管理专委会军用电子元件“八五”可靠性研究学术会议》 | 1998年
摘要：该文依据军用电子元器件标准和规范对两种可靠性保证要求表征方法进行认真分析，对固有可靠性的评价方法提出了探索性意见。
2.固体继电器可靠性增长研究
- 王庚林;李长寿;富蔓
- 《中国电子学会电子元件分会可靠性与质量管理专委会军用电子元件“八五”可靠性研究学术会议》 | 1998年
摘要：在固体继电器可靠性增长研究中，该厂进行了失效分析、技术攻关和可靠性预计、统计和试验，使代表产品的主要性能达到了九十年代初国际先进水平，其预计可靠性、使用统计可靠性、试验可靠性均提高了一个数量级，从而圆满保证了长征三号、东风三十一等多项国防重点工程的配套需要。
3.加速试验及其管理
- 袁学成;吴先献;罗雯;夏群光
- 《中国电子学会电子元件分会可靠性与质量管理专委会军用电子元件“八五”可靠性研究学术会议》 | 1998年
摘要：该文用ＤＢＡＳＥ语言编制了特征值时序处理等数据处理程序对产品的加速寿命试验数据进行处理，该方法比用常规处理方法获得更直观、准确的结果。同时，可以检验产品加速寿命试验曲线是否出现反常分布，并确定反常分布拐点位置，求出产品寿命的特征参数值。提出了用时序处理步进应力加速寿命试验数据的新方法。通过高加速寿命试验对片式陶瓷电容器工作寿命进行了评价，结果表明：产品失效包含早期失效和磨损失效两部分，产品失效服从对数正态分布，国产片式陶瓷电容器的电压加速系数指数按３是合适的。
4.CY型印制电路连接器可靠性增长研究
- 程时新;周付斌;张菊华;何斌
- 《中国电子学会电子元件分会可靠性与质量管理专委会军用电子元件“八五”可靠性研究学术会议》 | 1998年
摘要：该文以ＣＹ４型印制电路连接器为代表，对ＣＹ型印制电路连接器的失效模式和失效机理进行了系统的分析和研究，并通过一系列工艺改进及对比试验，在实践中对产品进行试验￣分析￣改进，系统的进行了ＣＹ型印制电路连接器可靠性增长的研究，从而获得了提高印制电路连接器可靠性水平的一些有效途径。使产品的接触电阻和耐环境性达到了国军标的要求。
5.固体钽电容器序进应力加速寿命试验及可靠性增长研究
- 冷时铭;谢蕴芬;陈道信
- 《中国电子学会电子元件分会可靠性与质量管理专委会军用电子元件“八五”可靠性研究学术会议》 | 1998年
摘要：固体钽电解电容器序进应力加速试验及可靠性增长研究是采用序进应力加速寿命试验方法得到固体但电容器失效率加速因子和主要的失效模式，并根据失效模式的失效机理，采用工艺控制和工艺改进的方法，消除和控制这些失效模式，使产品可靠性得到增长，如此反复循环，使产品可靠性和质量得到不断改进提高。
6.CJ10型金属化纸介电容器自然环境贮存试验总结及失效机理分析
- 高儒昌
- 《中国电子学会电子元件分会可靠性与质量管理专委会军用电子元件“八五”可靠性研究学术会议》 | 1998年
摘要：该文介绍了ＣＪ１０型金属化纸介电容器在露天环境和室内环境下多年贮存时间测试的电性能变化情况。可供使用者参考。
7.军用射频同轴连接器可靠性预计分析
- 张景源;徐俐第
- 《中国电子学会电子元件分会可靠性与质量管理专委会军用电子元件“八五”可靠性研究学术会议》 | 1998年
摘要：中国制订的国军标ＧＪＢ６８１和ＧＪＢ６８０是射频同轴连接器总规范和转接器总规范，它们是等效采用ＭＩＬ－Ｃ－３９０１２和ＭＩＬ－Ａ－５５３３９。目前中国生产的Ｎ、ＢＮＣ、ＴＮＣ、ＳＭＡ、ＳＭＢ和ＳＭＣ型等军用射频同轴连接器与美国同类产品具有相同的设计、相似的加工手段和相同的测试系统。因此，只要按国军标ＧＪＢ６８１规定生产的军用射频同轴连接器能严格按照质量保证程序来控制生产，在取得鉴定合格资格后，可以按照ＭＩＬ－ＨＤＢＫ－２１７Ｅ的规定进行可靠性预计，该文根据失效率模型计算出军用射频同轴连接器相应于各种使用环境的失效率入λ〈，Ｐ〉。
8.2-4GHzYIG振荡器可靠性增长研究
- 黄绍华;张礼科
- 《中国电子学会电子元件分会可靠性与质量管理专委会军用电子元件“八五”可靠性研究学术会议》 | 1998年
摘要：通过故障报告、纠正即ＦＲＡＣＡＳ管理，按试验、分析和纠正的ＴＡＡＦ循环并开展正交试验设计，利用逐步消除失效模式法和克劳可靠阶段约束增长模型等增长，评估技术，使ＹＩＧ振荡器的平均无故障工作时间ＭＴＢＦ的无偏估计算计值Ｍ（Ｔ）由初其的５０００小时增长到７１５７６小时，在置信度为６０℅情况下，单侧下限值ＭＬ（Ｔ）为２１６８８小时，实现了ＹＩＧ振荡器的可靠性增长目标。
9.国内外军用电子元器件可靠性对比研究
- 钟开云
- 《中国电子学会电子元件分会可靠性与质量管理专委会军用电子元件“八五”可靠性研究学术会议》 | 1998年
摘要：该文在收集了１６０００多条国内外标准目录和几万条元器件性能对比的资料以及一万多年条器件失效数据的基础上，将元器件分成１０大类１２５小类７２７种，并对主要元器件的性能测试方法、可靠性试验方法作了深入的分析对比，指出ＣＪＢ、ＧＢ与ＭＩＬ、或ＩＥＣ的异同点；国产电子元器件与国外同类型产品性能上的差异；国产电子元器件的主要失效模式为击穿、表面损伤、参漂、接触不良、引线断裂等。该课题将有关数据资料按专题建立了数据库、数据库采用模块结构，其模糊查询的方法极大地方便了用户，采用编码的方式使数据库易于扩展。
10.军用通用电子元件失效率等级运用范围的研究
- 杜洪富;谢绍明
- 《中国电子学会电子元件分会可靠性与质量管理专委会军用电子元件“八五”可靠性研究学术会议》 | 1998年
摘要：该文通过对失效率等级适用的军用电子元件规范类型的分析以及对ＧＢ１７７２－７９及军用标准中的质量保证措施与可靠性的关系和电子元件使用失效率的预计等问题的分析，提出了提高产品可靠性的基本措施的几点意见。
11.努力做好可靠性工作
- 周峻峰
- 《中国电子学会电子元件分会可靠性与质量管理专委会军用电子元件“八五”可靠性研究学术会议》 | 1998年
- 电子元件;
- 可靠性;
12.军用薄膜电容器失效机理与对策
- 龙占栋;李正玲;庞桂茉
- 《中国电子学会电子元件分会可靠性与质量管理专委会军用电子元件“八五”可靠性研究学术会议》 | 1998年
摘要：该课题研究收集了具有代表性的四个国家生产的十一种规格有机薄膜电容器。在外形结构、电性能方面作了测试对比，运用多种仪器对电客器的结构、材料、工艺进行了解剖分析。并对国产与进口的有机薄膜电容器的失效原因和主要失效机理进行了对比性的探讨，分析了国内产品存在的主要差距，提出了改善产品性能，提高产品水平的建议。
13.RJ14、RJ15金属膜电阻器的可靠性增长
- 李本德
- 《中国电子学会电子元件分会可靠性与质量管理专委会军用电子元件“八五”可靠性研究学术会议》 | 1998年
摘要：该文主要论述ＲＪＩ４、ＲＧＩ５电阻主要性能与ＭＩＬ－Ｒ－１０５０９之间的差距及其原因、失效模式、采取的主要改进措施及验证结果。
14.射频同轴连接器电接触技术及其可靠性研究
- 刘明辉
- 《中国电子学会电子元件分会可靠性与质量管理专委会军用电子元件“八五”可靠性研究学术会议》 | 1998年
摘要：随着整机系统向性能优越、可靠性水平高的方向发展，起着信号传输作用的射频同轴连接器的可靠性水平就显得尤其重要。因此，开展射频同轴连接器的可靠性研究己势在必行。该文对在射频同轴连接器中起着代表作用的ＳＭＢ产品的失效模式、失效原因及改进方法进行了深入的研究及详细的论述，其结论对提高整个射频同轴连接器的固有可靠性水平有着指导作用。
15.贯彻有可靠性指标(失效率)通用元件军用标准的可行性研究
- 杜洪富;霍光
- 《中国电子学会电子元件分会可靠性与质量管理专委会军用电子元件“八五”可靠性研究学术会议》 | 1998年
摘要：该文通过对有可靠性指标的通用元件国军标的分析，提出了贯彻的可行性的几点意见。
16.军用电子元器件可靠性增长方法研究
- 吴先献;陈昭宪;罗雯;袁学成;黄国平
- 《中国电子学会电子元件分会可靠性与质量管理专委会军用电子元件“八五”可靠性研究学术会议》 | 1998年
摘要：该文在总结中国电子元器件可靠性增长攻关经验的基础上，比较系统地提出对电子元器件进行增长管理的有关参数和基础方法，并举例说明了对军用电子元器件进行增长管理的基本途径。该文提出的电子元器件增长管理方法具有创新性和可操作性，对进一步推动中国军用电子元器件的可靠性增长管理工作，具有重要的指导意义和很好的使用价值。
17.重点工程用元器件可靠性与质量信息跟踪
- 车骥;钟开云
- 《中国电子学会电子元件分会可靠性与质量管理专委会军用电子元件“八五”可靠性研究学术会议》 | 1998年
摘要：该文对“×××、×××工程用元器件可靠性与质量信息跟踪”课题的开展情况进行了全面的总结，阐述了课题研究的基本情况。介绍了卫星、导弹用元器件优选信息手册；可靠性信息跟踪数据库等主要研究成果。
18.《××工程用罐形系列磁芯可靠性增长研究》
- 史庆余
- 《中国电子学会电子元件分会可靠性与质量管理专委会军用电子元件“八五”可靠性研究学术会议》 | 1998年
摘要：该文对用罐形系列磁芯的摸底试验和生产过程中出现的可靠性薄弱环节以及失效样品进行了分析研究。从影响该产品可靠性的主要因素（配方、制粉、压制与烧结等方面）着手，运用三次设计技术中的正交试验，确定产品的最佳工艺参数和配方，加上合理地试验（可靠性摸底试验、加速试验、评价试验）配合，最终使该系列产品的可靠性水平和产品合格率得到明显提高。通过“试验一分析一纠正”数次循环，使产品的可靠性水平增长了一个多数量级。其（失效率由３×１０〈’－６〉／ｈ降至１×１０〈’－７〉／ｈ），达到９２０１Ｋ００６合同要求。