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一种威布尔寿命分布模型

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摘要

给出了一种产品的长记忆寿命模型,推导出产品寿命的威布尔分布特性,对产品寿命试验的设计、分析、仿真有一定的应用价值.

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来源
《电子产品可靠性与环境试验》 |2001年第1期|7-9|共3页
作者
宋世斌;
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作者单位

中山大学统计科学系,;

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正文语种 chi
中图分类 0213.2;
关键词
产品寿命分布; 长记忆; 加速寿命试验;

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