首页> 中文期刊> 《电子产品可靠性与环境试验》 >电子产品加速寿命试验的一种优化设计

电子产品加速寿命试验的一种优化设计

         

摘要

在两个未知参数的加速方程中,设定一个约束条件,以MLE渐进方差最小为准则,给出了指数分布(电子产品寿命数据)下k≥3个应力情况失效数据分配的最优设计.

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号