针对SMD晶体器件检测的机器视觉系统的设计

摘要

SMD晶体器件的检测工序是其出厂前的最后一道工序，由于在测试时其电极具有方向性，因此需要对其进行方向识别。而传统光纤传感器无法实现稳定可靠的判别。本文提出了一种采用机器视觉系统进行判别的方法，降低了检测成本，提高了检测质量和效率。并对机器视觉系统硬件的搭建和软件测试算法进行了介绍。