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SMD封装器件的检测筛选方法研究

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本文针对微小器件检测筛选速度慢的问题,提出对SMD封装器件的检测筛选方法的研究.设计SMD封装器件轮廓跟踪检测筛选法,经过实验验证,表明设计的检测筛选方法具有更快的速度.所设计的方法对微小型器件的检测筛选具有便捷的操作性,为SMD封装器件的检测筛选提供一种技术手段.

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来源
《消费电子》|2021年第10期|74-75|共2页
作者
袁咏歆; 韩璞辉;
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作者单位

陕西省电子技术研究所;

陕西省电子技术研究所;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类
关键词
封装; 器件; 检测; 筛选;
入库时间 2023-07-24 21:38:07

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