基于单片机的激光远场光斑直接测量系统

摘要

激光远场光斑测量对描述激光束的远场性能,评价激光器以及系统的实际工作性能具有重要意义.通过比较激光光斑远场直接测量与间接测量的优缺点,提出使用单片机控制的探测器阵列进行远场光斑直接测量.描述了系统结构,分析了关键技术,给出了主要程序的框图.该系统能够测量激光光斑大小、形状、总能量、能量分布、重心、束散角等参数,可适用于多种重复频率的激光器,测量面积大、精度高,实时性好,为激光束绝对空间能量分布的测量提供了有效手段.