首页> 中文期刊>电测与仪表 >基于比值采样原理实现半导体温度电阻的测量

基于比值采样原理实现半导体温度电阻的测量

     

摘要

介绍一种采用比值采样测量半导体温度电阻的测量方法.由于采用比值采样技术,在不提高元件性能的前提下,大大提高了测量温度的准确度.

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号