首页> 中文期刊> 《电子设计技术》 >Agilent系统就绪测试方案加快测试系统开发

Agilent系统就绪测试方案加快测试系统开发

         

摘要

面对电子产品复杂性的快速增长和产品周期的不断缩短,测试和测量领域需要建立新的测试系统。Agilent(安捷伦科技)公司推出系统就绪测试(SRI)概念,帮助工程师加快测试系统开发,无需对硬件系统作大量改变,就能很方便地把仪器连接到计算机或网络,并在熟悉的软件环境中很快开始使用他们的仪器。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号