莫高窟第3窟壁画制作材料与工艺的无损检测分析

摘要

本研究采用高倍数码显微镜、拉曼光谱仪、x-荧光光谱仪、光纤光谱仪等便携式无损检测手段,对莫高窟第3窟壁画制作材料和工艺进行了初步分析.结果显示,高倍数码显微镜可观察壁画的表面的微观特征,X-荧光光谱仪可检测出颜料中的特征元素,拉曼光谱仪、光纤光谱仪分析中通过与标准图谱的比较,能够确定颜料的化学成分.因此,多种无损分析方法的联合运用,可取代原有的取样分析,达到对壁画制作材料、工艺认知的目的,减少了对文物本体的直接干预.