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王巍;
美国IBM公司; 半导体工艺; 节点; 跨越式; 极紫外光刻技术; 半导体技术; 芯片性能; 工业领域;
机译:IBM Research Alliance生产业界首个7nm节点测试芯片
机译:三星突破了7nm LPP节点技术的壁垒
机译:电子束检测钴沟槽中嵌入的空隙,可改善对7nm节点及更高节点处的中线的工艺控制
机译:基于较低技术节点(7nm)的不同FINFET的静态随机存取存储器设计
机译:栅堆叠结构和工艺缺陷对32 nm工艺节点PMOSFET中NBTI可靠性的高k介电依赖性的影响
机译:战术流动性和跨越式障碍突破:不可能,可能,未来主义。
机译:隔热外墙复合材料取得突破
机译:griffschale到einklipsen在薄壁上取得突破
机译:差速器组件在润滑方面取得突破
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