超大规模集成电路可靠性评估综述

摘要

为适应系统级芯片（SoC）高性能的要求,超大规模集成（VLSI）电路的密度和复杂度不断增加,从而为SoC芯片的可靠性带来了严峻的挑战。因此,准确评估VLSI电路的可靠性成为一个重要问题。该文主要从不同的层面和角度综合概述了前人及本课题组对VLSI可靠性进行评估的方法和策略及其解决的问题,最后结合作者的实际工作,描述了应进一步完善的工作并指出了当前工作的不足和困难。