退出
我的积分:
中文文献批量获取
外文文献批量获取
孟红霞; 时万春;
板测试; 芯片测试; 自动测试设备; MCM测试; IC;
机译:电路板上带有集成电路的芯片测试以及燃烧期间的测试集成电路芯片的主板测试和老化测试罗马尼亚语全文
机译:一种新的设计框架:具有流水线测试策略的内置测试多芯片模块
机译:电路板测试和产品生命周期。明智地制定测试策略
机译:模具和MCM测试策略:MCM可制造性的关键
机译:模型-测试-模型范例的贝叶斯测试策略
机译:在测试试验中测试策略和结果测量方法的文献化程度如何? RCTS测试处理和监控报告质量的比较
机译:特殊文章:近期MCM和裸LSI芯片安装的趋势。 MCM-L基板和包装的材料,CAD系统和测试设备。 MCM测试技术。
机译:用流水线测试策略设计BIT多芯片模块的新框架
机译:直接芯片连接(DCA)多芯片模块(MCM),带有可修复芯片的现场,可简化组装和测试过程
机译:接口板,包括该接口板的多芯片封装(MCP)测试系统以及使用该MCP测试系统的MCP测试方法
机译:测试板单元以及用于测试包括该测试板单元的半导体芯片的设备
抱歉,该期刊暂不可订阅,敬请期待!
目前支持订阅全部北京大学中文核心(2020)期刊目录。