智能仪器中的自测试技术——AQ—172OB

摘要

微处理器应用于仪器之中,由于微处理器具有多种逻辑控制和运算能力,不但扩展了仪器的测量功能,而且增强了仪器的自检能力和丰富了自检的内容,给仪器的使用和维修都带来了极大的方便。这也是智能仪器优越于传统仪器的一个重要方面。这里所说的自检,也即是自测试,也就是说在没有用户干预的情况下,仪器自己决定自己的功能是否正常、可靠。对于一个智能仪器来说,其内部的自测试应该不影响它本身的正常的测量工作,一般情况下都安排在一开机或者是测量的间隙进行。常见的自测试有下列三种方式: