过量受照人员细胞遗传学随访观察

摘要

本文报道了一次受γ射线过量（１０．０～４６．８ｃＧｙ）照射人员照后１５～２６年细胞遗传学随访结果。其中，染色体畸变分析５６例，微核检查直接法２２例，常规培养法４２例，并设有相应的对照组。结果表明，染色体畸变率和两种方法的微核率受照组都明显高于对照组，差异有显著性意义，但染色体畸变率及微核率与受照剂量的相关关系已不存在。