基于量子点荧光强度变化检测陶瓷疲劳微裂纹

摘要

量子点具有荧光光谱窄、激发光谱宽、荧光强度高、稳定性好等优势,将量子点应用于微裂纹的监测有极大的优越性。本文利用量子点涂层的荧光性能进行了陶瓷裂纹的直接检测,并与实际裂纹比较发现仅有2%的差别;借助ANSYS有限元软件计算模拟了陶瓷在产生疲劳裂纹后的应力分布。对比发现,涂层荧光强度变化和应力变化都呈区域性分布,而且应力越大,荧光强度越强,说明该方法是一种简单有效的裂纹测试手段。