基于诊断信息量的测点选择方法

摘要

将传统意义上测点的概念推广为电路中能够携带故障信息的任何可测量变量。用香农信息熵对在一定测点上测量前后电路故障状态的不确定性进行了定量描述,在此基础上提出了测点集合诊断信息量的概念并给出了其估计方法。将测点选择问题建模为在全体可达测点集合中选取具有最大诊断信息量的测点子集问题,用遗传算法对最优子集进行搜索。讨论了遗传算法中染色体的编码方式、适应度函数的选择以及遗传算子的设计方法。将本文提出的方法用于一个线性模拟电路的测点选择中,实验结果表明,所获得的测点子集能充分反映电路的故障状态信息。