双曲正切包装系统在半正弦脉冲作用下的冲击特性

摘要

研究双曲正切包装系统在半正弦脉冲作用下的冲击响应。结果表明：脉冲幅值m、系统参数Fm及阻尼ξ对系统冲击谱和破损边界曲线有显著的影响，且该包装系统与立方型和正切型包装系统在冲击响应上有着本质的区别。