消光法测量微粒尺寸的测量下限的研究

摘要

根据Ｍｉｅ光散射理论，本文详细讨论了用可见光波段的光透消光法（Ｌｉｇｈｔｅｘｔｉｎｃｔｉｏｎ）测量微粒尺寸的测粒下限。分析及计算表明，采用合适的最优化计算方法，光透消光法可用于测量亚微米级及以下的超细颗粒。文中给出了数值模拟计算结果及实测结果。