高杂质钼铁中Mo等元素的能量色散X射线分析

摘要

对一批高杂质钼铁进行了能量色散X射线(EDX)分析,测出了Mo的质量分数以及所含P、S、V、Ni等杂质元素,并与X射线荧光(XRF)的分析结果做了比较。实验采用大载荷压力机将粉末样品压片,用扫描电子显微镜(SEM)检查样品的表面形貌。实验表明,Mo和Si的分析结果令人满意,而P、S、Cu较差。