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刘明远; 邵锦荣;
中国华晶电子集团公司中央研究所;
数字集成电路; 可测性设计; 测试生成; 故障模拟;
机译:一种具有成本效益的可测性设计:时钟线控制和使用选择性时钟的测试生成
机译:延迟故障测试生成和综合,以标准扫描设计方法进行可测性
机译:数字测斜仪和测角仪进行肩部运动测量的可靠性和有效性:技术报告
机译:在标准扫描设计方法下,强大的延迟故障测试生成和综合可测性
机译:低功耗,高吞吐量数字信号处理IC的分层自动化设计流程。
机译:数字测斜仪和测角仪进行肩部活动度测量的可靠性和有效性:技术报告
机译:使用微波着陆系统(mLs)的终端区域自动导航,引导和控制研究。第5部分:使用现代控制技术设计和开发数字集成自动着陆系统(DIaLs),用于陡峭的最终进近
机译:在约束性随机测试生成中实现自动内存地址记录,以验证处理器硬件设计
机译:自动推荐适合电路设计的可编程IC的技术
机译:CMOS和BiCMOS IC的可测试性技术设计
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