拓扑缺陷的不同分布对单壁碳纳米管电学性能的影响

摘要

在紧束缚近似基础上,利用扩展的Su Schriffer Heeger(SSH)模型,在实空间研究了在完整的"zigzag"碳纳米管中分别引入5 7,5 6 7,5 6 6 7拓扑缺陷所构成的(9,0) (8,0),(9,0) (7,0)和(9,0) (6,0)三种异质结的电学性能.通过研究表明:这些拓扑缺陷不仅改变碳管的直径,而且支配费米能级附近的电学行为.并计算了(9,0) (8,0),(9,0) (7,0)和(9,0) (6,0)系统的电子态密度,对这3种异质结的能带结构和电子态密度进行了比较.结果表明:五边形和七边形在碳管中分布的不同对碳管电学性能的影响明显不同.因此,可以研制出基于这些异质结的不同的电子器件基元.