喷气箍缩等离子体X射线椭圆弯晶谱仪研究

摘要

为了测量喷气箍缩等离子体X射线的空间分辨光谱,利用椭圆聚焦原理,研制了一种椭圆晶体谱仪.分别利用Si(111)、Mica(002)椭圆晶体作色散元件,离心率均为0.9480,布喇格角为30～67.5°,光谱信号采用半径为50mm的半圆形胶片接收,从等离子体源经晶体到胶片的光路长为1430mm.在"阳"加速器装置上进行摄谱验证实验,成功获取了氩喷气等离子体X射线的光谱.测量光谱波长与理论值相符,其中Si弯晶获得的光谱分辨率(λ/Δλ=200～300)低于Mica弯晶获得的光谱分辨率(λ/Δλ=500～700).实验结果表明,该谱仪适合于喷气箍缩等离子体X射线的光谱学研究.