首页> 中文期刊> 《电子测量技术》 >基于VXI的武器测试系统基本型设计

基于VXI的武器测试系统基本型设计

         

摘要

将VXI总线技术运用于武器测试系统能够显著提高系统的测试精度和速度,改善测试性能。在对VXI总线特点分析的基础上,介绍了基于VXI的武器测试系统基本型的总体设计思路和原则,并阐述了该系统的软硬件设计和工作原理。该系统测试精度高、可靠性好,对于其他自动测试系统的组建亦具有很好的借鉴作用。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号