光栅单色仪及行波半导体光放大器端面反射率测量

摘要

分析了光栅单色仪对测量的影响及使用中应注意的问题,用以指导测量半导体激光器镀减反射膜前后的自发辐射谱。通过比较同一电流下的两张谱图,可以在几十纳米的波长范围内确定行波式半导体激光放大器端面的剩余模式反射率,并获得了低于3×10^(-5)的极低反射率。在34Mb/s的速度下,实测行波放大器的光纤至光纤净增益为15dB,放大器自身增益超过25dB。