大规模集成电路相关测试标准的剖析

摘要

集成电路测试是保证集成电路质量、发展的关键手段。CMOS器件进入超深亚微米阶段,集成电路继续向高集成度、高速度、低功耗发展,使得IC在测试和可测试性设计上都面临新的挑战。重点研究了纯数字信号、混合信号和片上系统测试的一些问题和相关标准,包括IEEE 1149.1-1990到IEEE 1149.6-2003,IEEE 1450,IEEE 1500,IEEE-ISTO Nexus 5001等测试标准。总结了集成电路测试标准的特点和最新进展,分析了这些标准在实际应用中存在的一些问题及其局限性,并对今后集成电路测试技术标准的发展给出了预测。