PLZT陶瓷的介电弛豫行为与A位有序

摘要

用传统粉末工艺合成了（Ｐｂ＿（０．８６５）Ｌａ＿（０．０９））（Ｚｒ＿（０．６５）Ｔｉ＿（０．３５））Ｏ＿３陶瓷（ＰＬＺＴ９／６５／３５）。Ｘ射线研究表明：试样中存在着Ａ位准体心立方有序超结构，有序畴的平均尺寸为１０～２０ｎｍ。测定了１０个频率下介电常数与温度的关系，并将介电常数最大值的温度Ｔ＿ｍ与对应的频率ｆ用Ｖｏｇｅｌ－Ｆｕｌｃｈｅｒ公式拟合，得到物理上合理的激活能及指数前项值，这表明试样的介电弛豫行为与自旋玻璃态类似。基于Ａ位有序超结构及类似于自旋玻璃态的极化行为，对试样的极化全过程进行了探讨。